Loading menu, please wait..
Accelerators
Photon Science
Particle Physics
Deutsches Elektronen-Synchrotron DESY
A Research Centre of the Helmholtz Association
PHOTON SCIENCE
DOOR
Users’ Area
News & Events
Facilities
Research
About us
Internal
✖
Loading menu, please wait..
Publications
Research Highlights
Research Teams
Technical Groups
Centres for research
Scientific media
Students & Teaching
Primers
Lectures & Seminars
Lectures (from previous years)
SS 21
SS 20
SS19
WS 18/19
SS18
SS17
SS16
SS 20
WS15/16
SS15
SS14
WS 13/14
SS13
Moderne Methoden zur strukturellen und chemischen Charakterisierung von Oberflächen
Struktur der Materie
Clusterphysik
Proseminar Röntgenphysik
Röntgenphysik -- Streuung und Abbildung
WS 12/13
SS12
WS11/12
SS11
WS10/11
SS10
WS09/10
SS09
WS08/09
Open Positions (Bachelor/Master/PhD Theses)
SR and FEL Basics
SR and FEL Labs
Stephenson Foundation
Research on SARS-CoV-2 at DESY light sources
PETRA III
FLASH
European XFEL
CFEL
CSSB
Home
/
Research
/
Students & Teaching
/
Lectures & Seminars
/
Lectures (from previous years)
/
SS13
·
SS13
Lectures and Seminars
Moderne Methoden zur strukturellen und chemischen Charakterisierung von Oberflächen
Vorlesung / Lecture
Moderne Methoden zur strukturellen und chemischen Charakterisierung von Oberflächen
Übungen / Excercices
Moderne Molekülphysik - Clusterphysik
Vorlesung und Übung
Röntgenphysik
Proseminar
Röntgenphysik II -- Streuung und Abbildung
Vorlesung und Übung
Physik VI (Atom-, Molekül- und Laserphysik)
Vorlesung
Übungen Physik IV
Übungen
Übungen zur Physik VI
Übungen
Seminar zur Molekülphysik
Seminar every Thursday in the CFEL seminar room (building 49, room 108) on the DESY campus in Bahrenfeld.
CUI-Lecture - Methods in current X-ray science: From imagning to spectroscopy
Vorlesung
Ultrafast Optical Physics II
Vorlesung
Exercises in Ultrafast Optical Physics II
Excercise
Seminar über Spektroskopie und Röntgenbeugung mit Synchrotronstrahlung
Seminar
PIER - Photon Science Colloquium
Seminar
We use cookies to provide full functionality of our website.
OK
More information